01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
1. สามารถเลือกใช้เกจบล็อกมาตรฐานให้เหมาะสมกับชนิดเครื่องมือที่ต้องการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.01 |
73902 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
2. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติเช่น เกจบล็อก ออปติคอลพาลาแลล ออปติคอลแฟลต โต๊ะระดับ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.03 |
73906 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
3. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภทได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.05 |
73907 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
4. สามารถบันทึกรายละเอียดของเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติและเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติในแบบบันทึกผลตามที่ห้องปฏิบัติการกำหนด |
01D1201.07 |
73908 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
1. สามารถเลือกใช้เกจบล็อกมาตรฐานให้เหมาะสมกับชนิดเครื่องมือที่ต้องการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.02 |
124105 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
1. สามารถรู้เกี่ยวกับเกณฑ์กำหนดของสภาวะแวดล้อมห้องปฏิบัติการสอบเทียบด้านมิติที่มาตรฐานกำหนด |
01D1201.04 |
124106 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
1. สามารถบันทึกข้อมูลสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.06 |
124107 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
1. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณในการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.08 |
124108 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
2. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติเช่น เกจบล็อก ออปติคอลพาลาแลล ออปติคอลแฟลต โต๊ะระดับ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.09 |
124109 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
3. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภทได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.10 |
124110 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
4. สามารถบันทึกรายละเอียดของเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติและเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติในแบบบันทึกผลตามที่ห้องปฏิบัติการกำหนด |
01D1201.11 |
124111 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
2. สามารถปฏิบัติตามขั้นตอนการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภท ได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.12 |
124112 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
3. สามารถการอ่านเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.13 |
124113 |
01D1201 เตรียมความพร้อม เครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานก่อนการสอบเทียบ และการเก็บรักษาเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานและเครื่องมือ มาตรฐาน |
2. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณ หรือโปรแกรมคำนวณผล หรือโปรแกรมสำนักงานตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1201.14 |
124114 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
1. สามารถรู้เกี่ยวกับเกณฑ์กำหนดของสภาวะแวดล้อมห้องปฏิบัติการสอบเทียบด้านมิติที่มาตรฐานกำหนด |
01D1202.05 |
73903 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
2. สามารถปฏิบัติตามขั้นตอนการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภท ได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.01 |
73909 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
3. สามารถการอ่านเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.03 |
73910 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
1. สามารถเลือกใช้เกจบล็อกมาตรฐานให้เหมาะสมกับชนิดเครื่องมือที่ต้องการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.02 |
124115 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
1. สามารถรู้เกี่ยวกับเกณฑ์กำหนดของสภาวะแวดล้อมห้องปฏิบัติการสอบเทียบด้านมิติที่มาตรฐานกำหนด |
01D1202.04 |
124116 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
1. สามารถบันทึกข้อมูลสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.06 |
124117 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
1. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณในการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.07 |
124118 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
2. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติเช่น เกจบล็อก ออปติคอลพาลาแลล ออปติคอลแฟลต โต๊ะระดับ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.08 |
124119 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
3. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภทได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.09 |
124120 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
4. สามารถบันทึกรายละเอียดของเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติและเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติในแบบบันทึกผลตามที่ห้องปฏิบัติการกำหนด |
01D1202.10 |
124121 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
2. สามารถปฏิบัติตามขั้นตอนการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภท ได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.11 |
124122 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
3. สามารถการอ่านเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.12 |
124123 |
01D1202 สอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐาน |
2. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณ หรือโปรแกรมคำนวณผล หรือโปรแกรมสำนักงานตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1202.13 |
124124 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถบันทึกข้อมูลสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.01 |
73904 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณ หรือโปรแกรมคำนวณผล หรือโปรแกรมสำนักงานตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.03 |
73911 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถเลือกใช้เกจบล็อกมาตรฐานให้เหมาะสมกับชนิดเครื่องมือที่ต้องการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.02 |
124125 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถรู้เกี่ยวกับเกณฑ์กำหนดของสภาวะแวดล้อมห้องปฏิบัติการสอบเทียบด้านมิติที่มาตรฐานกำหนด |
01D1203.04 |
124126 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถบันทึกข้อมูลสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.05 |
124127 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณในการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.06 |
124128 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติเช่น เกจบล็อก ออปติคอลพาลาแลล ออปติคอลแฟลต โต๊ะระดับ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.07 |
124129 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
3. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภทได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.08 |
124130 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
4. สามารถบันทึกรายละเอียดของเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติและเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติในแบบบันทึกผลตามที่ห้องปฏิบัติการกำหนด |
01D1203.09 |
124131 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถปฏิบัติตามขั้นตอนการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภท ได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.10 |
124132 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
3. สามารถการอ่านเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.11 |
124133 |
01D1203 บันทึกการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณ หรือโปรแกรมคำนวณผล หรือโปรแกรมสำนักงานตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1203.12 |
124134 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณในการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.01 |
73905 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถเลือกใช้เกจบล็อกมาตรฐานให้เหมาะสมกับชนิดเครื่องมือที่ต้องการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.02 |
124135 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถรู้เกี่ยวกับเกณฑ์กำหนดของสภาวะแวดล้อมห้องปฏิบัติการสอบเทียบด้านมิติที่มาตรฐานกำหนด |
01D1204.03 |
124136 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถบันทึกข้อมูลสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดด้านมิติเช่น ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.04 |
124137 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
1. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณในการสอบเทียบตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.05 |
124138 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติเช่น เกจบล็อก ออปติคอลพาลาแลล ออปติคอลแฟลต โต๊ะระดับ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.06 |
124139 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
3. สามารถเตรียมความพร้อมเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภทได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.07 |
124140 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
4. สามารถบันทึกรายละเอียดของเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติและเครื่องมือมาตรฐานด้านมิติในแบบบันทึกผลตามที่ห้องปฏิบัติการกำหนด |
01D1204.08 |
124141 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถปฏิบัติตามขั้นตอนการสอบเทียบเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติ 2 ประเภท ได้แก่ ไมโครมิเตอร์ และ เวอร์เนียคาลิปเปอร์ ตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.09 |
124142 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
3. สามารถการอ่านเครื่องมือวัดละเอียดพื้นฐานด้านมิติตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.10 |
124143 |
01D1204 คำนวณผลการสอบเทียบด้านมิติ |
2. สามารถใช้เครื่องมือคำนวณ หรือโปรแกรมคำนวณผล หรือโปรแกรมสำนักงานตามคู่มือการปฏิบัติงาน |
01D1204.11 |
124144 |